Este relatório busca descrever os procedimentos e resultados obtidos na calibração do micrômetro, verificando suas características metrológicas pelo uso de Blocos Padrão e, finalmente, determinar a tendência e a precisão, obtendo a curva de erro com o intuito instrutivo, determinando o erro máximo e comparando os resultados com a norma técnica (DIN 863).

2. Identificação do sistema de medição a calibrar (SMC)

O micrômetro a ser calibrado e analisado foi fabricado pela TESA e seu país de origem é a Suíça, o código do fabricante para esse micrômetro e seu número de patrimônio são respectivamente, 001.10101 e 019436. A faixa de medição e de indicação do micrômetro a ser calibrado são respectivamente de 0-25mm e 0-25mm, e o valor de uma divisão dele é de 0,01mm, a resolução usada para o processo é de 0,01mm.

3. Identificação do sistema de medição padrão (SMP) /Padrão

Corporificado (PC)

O Padrão Corporificado usado no processo de calibração foi fabricado pela Mitutoyo, tendo como o país de origem o Japão, o padrão possui, respectivamente, o código do fabricante e número do patrimônio, respectivamente, 516-942 e 019526, a data do seu certificado de calibração é de 20 de janeiro de 1972, os Blocos Padrão possuíam os valores nominais de: 3,0mm, 8,0mm, 12,0mm, 19,5mm e 24,5mm.

4. Procedimento de calibração

Para calibrarmos o micrômetro foi desenvolvido um procedimento de 5 medições para cada um dos 5 Blocos Padrão, além disso foi feita a medição para 0mm e para o Bloco

Padrão de valor nominal de 24,5mm coletou-se as medições no seu fechamento e abertura para avaliar a histerese. Durante o processo de medição a temperatura ambiente do laboratório era de 20ºC.

5. Resultados da calibração

Depois de concluída a etapa das medições, foram apresentados todos os dados obtidos na Tabela 1. Junto com as medições foram colocados os valores de MI (mm), s (μm), Td (μm), P (μm) e, h (μm), somente para o Bloco Padrão de valor nominal de 24,5mm.

VVC 1º ciclo 2º ciclo 3º ciclo 4º ciclo 5º ciclo média s Td P h 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 3 3 3 3 3 3 3 0 0 0 8 8 8,01 8,01 8,01 8,01 8,008 0,004472 0,008 0, 12 12 12 12,01 12,01 12,01 12,006 0,005477 0,006 0, 19,5 19,5 19,51 19,51 19,51 19,5 19,506 0,005477 0,006 0, 24,5 24,5 24,51 24,51 24,51 24,5 24,506 0,005477 0,006 0, 24,5 24,5 24,51 24,51 24,51 24,5 24,506 0,005477 0,006 0, Tabela SEQ Tabela * ARABIC 1. Dados brutos e processados

Figura SEQ Figura * ARABIC 1. Diagrama de erros

A partir da Tabela 1 nós pudemos analisar a tendência e a repetitividade do micrômetro para os 5 valores nominais dos Blocos Padrão, mais o 0. Para melhor visualização desses dados foi elaborado um diagrama de erros a partir dos valores obtidos para a Td, P e MI. Na curva de erros é possível visualizar com clareza os efeitos da repetitividade sobre a tendência do nosso sistema de medição.

Conclusão

Após uma reflexão sobre os dados obtidos no resultado de calibração conseguimos tirar algumas conclusões a respeito do nosso sistema de medição. Em primeiro lugar a respeito da Tabela 1 e do diagrama de erros vemos que na curva de erros foi possível afirmar que o erro máximo está na medida dos Blocos Padrão de 12mm, 19,5mm e 24,5mm, onde o valor do erro alcançou 0,021714mm. Além disso, de acordo com a norma DIN 863 – Td ≤ (4+ L /50)μm, onde L = limite inferior da faixa de medição – considerando a faixa de medição do micrômetro utilizado de 0mm-25mm, logo L =