Microscopia óptica de barrido (OS-2KV)
Víctor Sayil López Álvarez
En el siguiente equipo se observó el Microscopia óptica de barrido (OS-2KV)
tiene el objetivo hasta 300000 veces una muestra que se quiere caracterizar a
10 nanómetros.
Normalmente, todas las muestras se ven superficiales, aunque todo se ve en la
computadora.
Las primeras impresiones que se ve en la muestra son relieves. Sin embargo,
deben ser muestras pequeñas para ser introducidas al equipo para ser leídas,
analizadas y conocer su superficie.
El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope),
es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar
una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se
enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de
alta resolución, que significa que características espacialmente cercanas en la
muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las
muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que
estas sean conductoras.
Campo de aplicación
Fotografiado de muestras a alta resolución.
Análisis de composición química elemental.
Geología.
Estudio de materiales.
Metalurgia
Odontología
Fibras
Peritajes
