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Statistical Analysis of Electronic Product Lifespan - Prof. Kim Calvo, Exercises of History

A statistical analysis of the lifespan of electronic products subjected to high-voltage testing. The analysis includes individual measurements, moving ranges, and control limits for the lifespan data. The goal is to determine the expected lifespan of the products and identify any potential issues or variability in their performance. Detailed graphs and calculations to support the analysis, making it a valuable resource for engineers, quality control professionals, and researchers working on electronic product reliability and testing.

Typology: Exercises

2021/2022

Uploaded on 09/25/2022

andrea-castillo-huerta
andrea-castillo-huerta 🇺🇸

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bg1
Datos para gficas n=2
n=2 n=3
1234 1
1200 34 20
1192 8 42
1215 23 15
1198 17 6
1203 5 12
1240 37 42
1180 60 23
1196 16 44
1193 3 13
1245 52 49
1253 8 60
1197 56 48
1210 13 43
1225 15 28
1235 10 25
1190 45 35
1185 5 50
1134 51 56
1201 67 16
Xmedia 1206.3
Medida
individual
X1
X2
X3
X4
X5
X6
X7
X8
X9
X10
X11
X12
X13
X14
X15
X16
X17
X18
X19
X20
EJEMPLO I-RM
Un artículo electrónico al someterse a una prueba de alto voltaje produce un ruido durante varios segundos que sirve para
determinar la duración de vida del artículo. Como el costo de producción de cada artículo es alto y al someterlo a prueba no
existe forma de reprocesarlo, se ha optado por probar unode lo s producidos durante una jornada de trabajo. Las veinte
primeras lecturas (en milésimas de segundo) se expresa a continuación
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
1050.0
1100.0
1150.0
1200.0
1250.0
1300.0
GRÁFICA DE LECTURAS INDIVIDUALES DE VIDA DE ARTÍCULOS ELECTRÓNICOS
n=2
Media de datos individuales
LSCX
LICX
Medida individual
Arculo
milésimas de segundo
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
0.0
10.0
20.0
30.0
40.0
50.0
60.0
70.0
80.0
90.0
100.0
GRAFICA DE RANGOS MÓVILES PARA la VIDA DE LOS ARTÍCULOS
ELECTRÓNICOS
n=2
Media de R
LSCR
LICR
n=2
Arculo
Milésimas de segundo
pf3
pf4
pf5
pf8

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N° n=2 n=3 N°

Xmedia 1206.

Medida

individual

X 1

X 2

X 3

X 4

X 5

X 6

X 7

X 8

X 9

X 10

X 11

X 12

X 13

X 14

X 15

X 16

X 17

X 18

X 19

X 20

EJEMPLO I-RM

Un artículo electrónico al someterse a una prueba de alto voltaje produce un ruido durante varios segundo

determinar la duración de vida del artículo. Como el costo de producción de cada artículo es alto y al somete

existe forma de reprocesarlo, se ha optado por probar unode lo s producidos durante una jornada de tra

primeras lecturas (en milésimas de segundo) se expresa a continuación

GRÁFIC

milésimas de segundo

GRAF

Milésimas de segundo

Rmedia 27.6 33. 1279.8 1266. 1132.8 1146. 90.3 86. 0.0 0. 2.7 1. 0.0 0. 3.3 2. n=2 n= LSCX LICX LSCR LICR E (^2) n = rango móvil utilizado, pu D^10 3 D (^4) Para entrar a tablas se ubica la intesección con la cons presentación dentro d

Milésimas de segundo

n = rango móvil utilizado, puede ser 2, 3, 4, 5 hasta 10 Para entrar a tablas se ubica el valor de n y se hace la intesección con la constante (la tabla en la presentación dentro del tema de I-RM)

Media de R LSCR LICR n=

Artículo

Milésimas de segundo

Datos para gráficas n=

N° Media de R

Media de datos

individuales LSCX^ LICX^ LSCR

S

Media de datos individuales LSCX LICX Medida individual 20 Media de R LSCR LICR n=

GRÁFICA DE LECTURAS INDIVIDUALES DE VIDA DE ARTÍCULOS ELECTRÓN

n=

Artículo

milésimas de segundo

GRAFICA DE RANGOS MÓVILES PARA la VIDA DE LOS ARTÍCU

ELECTRÓNICOS

n=

Artículo

Milésimas de segundo

LICR

DA DE ARTÍCULOS ELECTRÓNICOS

Media de datos individuales LSCX LICX Medida individual 2 14 16 18 20

la VIDA DE LOS ARTÍCULOS

OS

Media de R LSCR LICR n=

Media de R LSCR LICR n=